Konstrukce je zaměřena na snadné použití a jednoduchost a může fungovat nepřetržitě déle než měsíc na jednu baterii PP3. Tester bude testovat bipolární tranzistory, ale není schopen pracovat s FET.
Tester se aktivuje stisknutím iest tlačítka, což je vlastně vypínač a podezřelý tranzistor se zapojí do zásuvky na panelu.
Stav dvou LED diod zobrazuje výsledek testu (Tabulka 1).
Jak obvod funguje
Kolektor a emitor testovaného tranzistoru jsou vystaveny kolísajícím bipolárním signálům ve společném základním obvodu testerem, což způsobuje tok proudu v LED diodách, zatímco je tranzistor vodivý.
K rozlišení mezi vybitou baterií a tranzistorem s otevřeným obvodem je k dispozici testovací tlačítko baterie.
Pokud je baterie v pořádku, stisknutím tohoto tlačítka zablikají obě LED diody, aby napodobily zkrat C-E.
Tester využívá 8pinový duální operační zesilovač čip, v mém případě IC 1458, což je ekvivalent duálního 741. Místo něj však lze použít různá zařízení kompatibilní s kolíky, jako je duální zesilovač J-FET 353.
Specifikace LED
Nakonec jsem jako indikátory použil dvě 0,2palcové zelené LED diody s označením NPN a PNP. Předchozí prototyp používal zelenou LED pro NPN a červenou pro PNP, což vypadalo mnohem lépe, ale pokud máte zájem o dvoubarevný displej, použití LED s přizpůsobenou intenzitou je nezbytné.
Když jsem zjistil, že moje nová sada červených LED spotřebovává mnohem více proudu než ty zelené, vzdal jsem se projektu.
Potvrzené LED s přizpůsobenou intenzitou jsou dražší; jako náhradu použijte červené a zelené LED se stejným průměrným světelným výkonem (měřeno v mcd: milikandely) a v mA).
To je zásadní, protože jakmile je baterie na svém místě, může druhá LED svítit velmi slabě, pokud je testován dobrý tranzistor (kvůli opačnému vedení) nebo pokud je ten správný docela slabý.
Mohlo by to být matoucí.
Jak nastavit
Tester tranzistorů lze nastavit dvěma různými způsoby: jednoduchým způsobem a složitějším, ale spolehlivým způsobem.
V obou případech je obvod testován simulací zkratu C-E (stisknutím tlačítka testu baterie) a trimpot RV1 se nastavuje, dokud obvod nefunguje podle potřeby.
Při přibližně 3 Hz by měly dvě LED střídavě blikat. Pokud ne, museli jste udělat nějakou chybu. Čtěte dále za předpokladu, že ano.
Nejjednodušší metodou je modifikovat RV1, dokud se nedosáhne požadované odezvy pro všechna zařízení při použití sady známých dokonalých tranzistorů.
BC184, BC274 (vysoký zisk NPN a malý signál PNP), TIP31, TIP32 (výkon 3 A NPN a PNP se středním ziskem) a TIP3055, TlP2955 (výkon 15 A NPN a PNP s nízkým ziskem) tvoří společnou sadu.
RV1 je v nominální střední poloze.
Každý tranzistor je umístěn do patice jeden po druhém, poté je stisknuto testovací tlačítko.
Poté se RV1 plynule upravuje, dokud LED diody nezobrazí správné pořadí. Je životně důležité používat tranzistory v přesném pořadí: nejprve seřiďte BC184 a BC214, dokud tester neukáže, že oba jsou přesné, pak upravte TIP31 a TIP32 jemněji a poté dolaďte TIP3055 a T1P2955 na co nejmenší stupeň.
Překontrolování by pak mělo přinést správný výsledek pomocí libovolného tranzistoru náhodně.
Tato technika nastavení má nevýhodu v tom, že nebere v úvahu posun výkonu, protože baterie testeru stárne.
Při nízké spotřebě proudu, jako je tento obvod, může nový PP3 generovat až 9,6 V.
Chceme, aby tester fungoval co nejdéle na jednom článku, řekněme do zhruba 8V, což je tak málo, jak si ve skutečnosti troufáme.
Univerzální testovací obvod BJT, JFET, MOSFET
Tento užitečný tester tranzistorů umožňuje uživateli rychle zkontrolovat funkčnost tranzistoru NPN/PNP, JFET popř. (V) MOSFET stejně jako vhodně určit orientaci jejich svorek nebo kolíků.
Tříkolíkový BJT nebo FET poskytuje celkem 6 proveditelných korelovaných konfigurací, avšak pouze jedna bude pravděpodobně ta správná.
Tento univerzální testovací obvod tranzistorů nabízí snadné a spolehlivé rozpoznání vhodné konfigurace tranzistoru a současně vytváří praktickou zkoušku tranzistoru.
Jak obvod funguje
Samotný obvod testeru obsahuje tranzistor, který společně s testovaným tranzistorem (TUT) tvoří stabilní multivibrátor obvod.
Tester má 5 testovacích slotů v těsné blízkosti u sebe, určených podle jejich příslušného označení:
E/S - B/G - C/D - E/S - B/G
Toto uspořádání umožňuje prozkoumat níže uvedená zařízení prostřednictvím uvedených konfigurací:
• Bipolární tranzistory: EBC / BCE / CEB a reverzní: BEC / ECB / CBE.
• Unipolární tranzistory (FET): SGD / GDS / DSG a obrácené: GSD / SDG / DGS.
